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8 機械製造 下

深入解析 現今公差數據與公式衍生的問題

公式 7-1 應用在表 7-4 絕大部分都沒有問題，問題在第一行的尺寸，第一行表示 3
mm 以下皆合用。在制定這個表時，機械生產的最小尺寸大約在 0.1mm 的範圍，因此還能

勉強合用。但別忘了，今日各種領域的加工方法都被引進製造，如半導體製程應用在微機電
系統（MEMS），尺寸範圍向下大幅延伸，因此造成不合理現象；如現在半導體製程已進
入奈米等級（100 nm 以下），此表完全無法適用。以 45nm 為例說明：

-9
1 nm = 10 m
-6
45 nm = 45×10 mm（因為公式 7-1 以 mm 為單位）
代入公式 7-1 得

3
i=0.45 45×10 -6 + 0.001×45×10 -6
-3
= 16×10 (μm) [ 公差以 μm 為單位 ]
= 16nm

IT5 是一般工件最精密的公差等級，其公差為 7i=112 nm。
要製造 45nm 的線或槽，公差卻超過 110nm，合理嗎？未來有更多非傳統技術導入製造，

如原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM）以搬動原子的方式製造產品，單位又小
於 nm，對現行公差等級將造成很大衝擊。

四
公差符號

公差符號是由英文字母與數字組成，其中英文字母表示基礎偏差（即一般所稱之公

差位置），數字表示公差等級。

1 字母

表示公差區域與零線的相對位置，即公差的起始位置（基礎偏差）；字母為 26 個
英文字母，大寫表示母件或孔；小寫表示公件或軸，除去易混淆的 I、L、O、Q、W（i、

l、o、q、w），加入 CD、EF、FG、JS、ZA、ZB、ZC（cd、ef、fg、js、za、zb、zc）等
雙字母，共有 28 個， 如圖 7-3 所示。